多組通道相控陣探傷儀可被用于幾乎任何在傳統(tǒng)意義上可以使用常規(guī)超聲探傷儀的檢測應用中。焊縫檢測和裂縫探測為兩項最重要的應用，因為在包括航空航天、電力生產(chǎn)、石油化工、金屬坯材和管件商品供應、輸運管線建造與維護、結構金屬、以及一般制造業(yè)在內的各種工業(yè)領域中都會用到這兩項檢測。

 

　　多組通道相控陣探傷儀具有以下明顯的優(yōu)點：

　　1、相控陣技術除具有一般超聲波的A掃外，又增加了B掃、C掃、D掃、S掃，特別是形成了具有可視化的S掃，增加了缺陷的直觀性，對缺陷易見易判；

　　2、相控陣探頭的單個晶片尺寸很小，使超聲場的近場區(qū)很小。相控陣探頭既能探測較深的部位，又能檢測近表面部位，彌補了直探頭和雙晶探頭的不足；

　　3、探頭頻率可達6MHz以上，甚至可以達到20MHz或更高,高頻率探頭的使用，使對小缺陷超聲波檢測成為可能。多組通道相控陣探傷儀探頭的聚焦性能，有助于提高對缺陷的識別能力。

 

　　產(chǎn)品聲速校準方法：

　　原理：相控陣扇形掃查、線性掃查分別與A型掃描超聲波檢測斜探頭、直探頭的方法相似。扇形掃查的聲束入射到兩個半徑為50mm與100mm的同心圓，線性掃查聲束入射兩個不同厚度的試塊，系統(tǒng)通過入射到兩個反射體的發(fā)射與接收時間關系計算出聲速。校準聲速的目的是讓多組通道相控陣探傷儀計算的聲速與被檢工件聲速相近，減少測量誤差。

　　1、扇形掃查：調節(jié)角度指針至設置的扇形掃查范圍中心角度。例如：扇形掃查范圍為30°-70°，調節(jié)角度指針至50°。將探頭置于CSK-IA試塊，前后移動探頭找到兩個同心圓的最大反射回波，固定探頭，分別移動閘門套住回波依次“得到位”，最后確定完成聲速校準。

　　2、線性掃查：移動探頭找到探頭最大回波，閘門依次套住回波“得到位”，最后確定完成聲速校準。