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簡要描述：LEPTOSKOP 2042 涂層測厚儀利用磁感應(yīng)法（DIN EN ISO 2178）測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法（DIN EN ISO 2360）測量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚度。
產(chǎn)品型號：LEPTOSKOP 2042廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2024-07-06訪 問 量：603產(chǎn)品分類
Product classification詳細(xì)介紹
LEPTOSKOP 2042 涂層測厚儀
| 利用磁感應(yīng)法（DIN EN ISO 2178）測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法（DIN EN ISO 2360）測量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚度。 |
| 儀器將一種把測厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合，同時(shí)提供10種可供任意選擇的語言，以滿足客戶的各種需求。 涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042是一種經(jīng)濟(jì)的產(chǎn)品，電池壽命長，可以連續(xù)工作100小時(shí)以上。儀器記錄工作時(shí)間和測量數(shù)量，因此一些重要的參數(shù)可以被保存。 彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi)，可以保護(hù)儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。 |
LEPTOSKOP 2042 涂層測厚儀
| 特點(diǎn)概述 |
| 大圖解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景燈校準(zhǔn)選項(xiàng) 出廠時(shí)已校準(zhǔn)，立即可用 在未知涂層上校準(zhǔn)* 零校準(zhǔn)* 在無涂層的基體上一點(diǎn)和多點(diǎn)校準(zhǔn)* 在有涂層的基體上校準(zhǔn)*校準(zhǔn)數(shù)據(jù)可以別單獨(dú)存儲在獨(dú)立的校準(zhǔn)檔案中，也可以隨時(shí)調(diào)出可選擇的顯示模式，以形式去完成測量任務(wù)*輸入和極限監(jiān)視*在Windows下有簡單的存儲讀數(shù)檔案管理*可用的電腦軟件STATWIN 2002 和EasyExport統(tǒng)計(jì)*可統(tǒng)計(jì)評估999個(gè)讀數(shù)小值、大值、測量個(gè)數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)偏差和極限監(jiān)視局部厚度和平局膜層厚度（DIN EN ISO 2808）在線統(tǒng)計(jì)，所有統(tǒng)計(jì)值概括 |
 3種配置級別以更好的完成測量人任務(wù) |
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| LEPTOSKOP 2042 有3種配置級別 |
 | 基本型 – 證明質(zhì)量的基本特征 |
| 高級型 - 附加統(tǒng)計(jì)評估 |
| 專業(yè)型 - 統(tǒng)計(jì)評估和數(shù)據(jù)存儲 |
| 如果針對新的測量要求，而需要儀器增加新的功能，可以在任何時(shí)候把儀器升級為高級型和/或?qū)I(yè)型。升級只需在現(xiàn)場輸入解鎖代碼，“統(tǒng)計(jì)”和/或“統(tǒng)計(jì)& 數(shù)據(jù)存儲”，便可完成；而不需要把儀器反廠或重新購買新機(jī)器。 |
| 多樣的探頭 |
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| 多樣的外部探頭使LEPTOSKOP 2042在困難的條件下，更容易地測量復(fù)雜幾何圖形上的特殊涂層厚度。涂層厚度是20mm 也是可以的。根據(jù)需求，我們也可以訂做特殊探頭。 |
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