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phoenix v|tome|x L 300 CT檢測系統(tǒng)

簡要描述:phoenix v|tome|x L 300 CT檢測系統(tǒng)是多功能高分辨率微焦點(diǎn)系統(tǒng),用于二維和三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct)和二維無損X射線檢測。

  • 產(chǎn)品型號(hào):phoenix v|tome|x L 300
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2024-07-07
  • 訪  問  量:981

詳細(xì)介紹

phoenix v|tome|x L 300 CT檢測系統(tǒng)是多功能高分辨率微焦點(diǎn)系統(tǒng),用于二維和三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct)和二維無損X射線檢測。 它配備有一個(gè)單極300千伏/ 500 瓦的微聚焦源,確保了300千伏的世界上好的放大倍率。其基于花崗巖的操作可處理多達(dá)50千克,長600 毫米/ 直徑500毫米的大樣本且具有精度。 該系統(tǒng)是一個(gè)用于無效和缺陷檢測和復(fù)合材料、鑄件和精密零件如注射噴口或渦輪葉片的三維測量(如*檢測)的*的解決方案。 可選的高功率納米焦距X射線管可使 phoenix v|tome|x L 300適應(yīng)任何種類的工業(yè)和科學(xué)高分辨率CT應(yīng)用。

phoenix v|tome|x L 300 CT檢測系統(tǒng)

主要功能

  • 因其單極300千伏的管設(shè)計(jì)(在焦點(diǎn)和樣本大小之間有5毫米的距離),放大倍率可用于高吸收樣品的定量無損檢測

  • 三維測量包用于空間測量,具有*精度,再現(xiàn)性和親和力

  • 鋼鐵零件和大型鋁鑄件的故障檢測和可重現(xiàn)的三維測量

  • 二維X射線檢測和三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct and nano ct) 模式之間的輕松轉(zhuǎn)換可細(xì)化至1微米

顧客利益:

  • 廣泛應(yīng)用于不同樣本而無需改變X射線管

  • 通過高動(dòng)態(tài)溫度穩(wěn)定的GE DXR數(shù)字探測器獲取的30 FPS(幀每秒)和菱形|窗口(可選)的快速CT采集和清晰的影像

  • 通過 VELO | CT在幾秒鐘或幾分鐘內(nèi)(取決于體積大?。┩瓿筛斓娜SCT重建

  • 用點(diǎn)擊&測量|CT進(jìn)行高精度且可重現(xiàn)的三維測量,使用datos | X 2.0 - 在少于1小時(shí)之內(nèi)自動(dòng)生成*檢測記錄是可能的

  • 高達(dá)10倍的增加的燈絲壽命,通過長壽命的|燈絲(可選)確保了長期穩(wěn)定性系統(tǒng)效率

 

 

三維計(jì)算機(jī)斷層掃描

工業(yè)X射線三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct 與 nano ct) 的經(jīng)典應(yīng)用是對(duì)金屬和塑料鑄件的檢測和三維測量。 然而, phoenix| X射線的高分辨率X射線技術(shù)開辟了在眾多領(lǐng)域的新應(yīng)用,如傳感器技術(shù)、電子、材料科學(xué)以及許多其他自然科學(xué)。

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渦輪葉片是復(fù)雜的高性能鑄件,要滿足高質(zhì)量和安全性的要求。 CT可進(jìn)行故障分析以及精確的三維測量(如壁厚)。

材料科學(xué)

高分辨率計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct 與 nano ct)用于檢測材料、復(fù)合材料、燒結(jié)材料和陶瓷,但也用來對(duì)地質(zhì)或生物樣品進(jìn)行分析。 材料分配、空隙率和裂縫在微觀分辨率上是三維可視的。

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玻璃纖維復(fù)合材料的nanoCT ®: 纖維氈(藍(lán)色)的纖維方向和基質(zhì)樹脂(橙色)會(huì)顯示出來。 右邊: 樹脂內(nèi)的空洞會(huì)以暗腔出現(xiàn)。 左邊: 樹脂已淡出,以更好地使纖維氈可視化。 氈內(nèi)的單根纖維是可見的。

傳感器和電氣工程

在傳感器和電子元件的檢測中,高分辨率X射線技術(shù)主要用于檢測和評(píng)估接觸點(diǎn)、接頭、箱子、絕緣子和裝配情況。 它甚至可以檢測半導(dǎo)體元件和電子設(shè)備(焊點(diǎn)),而無需拆卸設(shè)備。

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一個(gè)表達(dá)式探針(連接器端視圖)的微焦點(diǎn)計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct)圖像顯示鉻鎳鐵合金保護(hù)套(黃色),包括激光焊接的接縫,壓接連接(藍(lán)色)和陶瓷的氧傳感器的觸點(diǎn)(藍(lán)/紅)。

測量

用X射線進(jìn)行的三維測量是可對(duì)復(fù)雜物體內(nèi)部進(jìn)行無損測量的技術(shù)。 通過與傳統(tǒng)的觸覺坐標(biāo)測量技術(shù)的對(duì)比,對(duì)一個(gè)物體進(jìn)行計(jì)算機(jī)斷層掃描的同時(shí)可獲得所有的曲面點(diǎn) - 包括所有無法使用其他測量方法無損進(jìn)入的隱蔽形體,如底切。 v|tome|x s 有一個(gè)特殊的三維測量包,其中包含空間測量所需的所有工具,從校準(zhǔn)儀器到表面提取模塊,具有可能的精度,可再現(xiàn)且具有親和力. 除了二維壁厚測量,CT體數(shù)據(jù)可以快速方便地與CAD數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,例如,分析完成元件,以確保其符合所有的規(guī)定尺寸。

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對(duì)氣缸蓋的三維測量

鑄件與焊接

射線無損檢測用于檢測鑄件和焊縫缺陷。 微焦點(diǎn)X射線技術(shù)和工業(yè)X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描(mico ct)的結(jié)合,使得微米范圍內(nèi)的缺陷探測成為可能,并提供低對(duì)比度缺陷的三維圖像。

 

 

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