簡要描述:ED400型 渦流測厚儀適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度,還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度,測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測量塑料薄膜及紙張厚度。
詳細介紹
ED400型 渦流測厚儀適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度,還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度,測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測量塑料薄膜及紙張厚度。
ED400型 渦流測厚儀以良好的質量,及時、優(yōu)質、低費用的售后服務得到用戶的廣泛贊譽和認可,天星測厚儀在鋁型材行業(yè)的*超過90%,成為該行業(yè)的產品。
特點
量程寬 ED400型渦流測厚儀量程達到 0~500 μm。 | |
精度高 測量精度達到2%。
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分辨率高 分辨率達到0.1μm。
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校正簡便 只校正“0”和“50 μm”兩點,即可在全量程范圍內保證設計精度。 | |
基體導電率影響小 基體材料從純鋁變化到各種鋁合 金、紫銅、黃銅時,測量誤差不 大于1~2 μm。
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可靠性提高 采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件,電路結構優(yōu)化,儀器可靠性提高。
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采用*的溫度補償技術,測量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產現(xiàn)場長期使用。 | |
采用高強度磁芯材料,微調了探頭設計,探頭芯壽命可大大延長。
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技術參數(shù) | ||
測量范圍: | 0~500 μm | |
測量精度: | 0~50 μm:±1 μm; | |
50~500 μm:±2% | ||
分辨率: | 0~50 μm:0.1 μm; | |
50~500 μm:1 μm; | ||
0~500 μm:1 μm(可選) | ||
使用溫度: | 5~45℃ | |
外形尺寸: | 150 mm×80 mm×30 mm | |
重量: | 280 g |
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