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簡要描述：菲希爾光譜儀 X射線熒光鍍層測厚儀注意事項 統(tǒng)計計算：數(shù)據(jù)組帶時間和時期功能，統(tǒng)計功能包含平均值、標準偏差、大值、小值等；還可輸入公差范圍，計算CP和Cpk值，超范圍值時儀器應有自動報警提示功能
產(chǎn)品型號：XDL230型廠商性質：代理商更新時間：2024-07-09訪 問 量：1596產(chǎn)品分類
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菲希爾光譜儀 X射線熒光鍍層測厚儀注意事項
主要技術指標：（標★為重要參數(shù)）
1、測量原理：X射線熒光光譜法測量鍍層厚度
2、測量方式：無損檢測，可自動聚焦
3、元素測量范圍: Cl（17）--U（92），多可測量24種元素23層鍍層。
★4、手動X/Y平臺,移動范圍≥95x150mm,可用工作臺面≥420x450mm
5、電動Z軸，手動/自動聚焦，可移動范圍≥140mm
★6、采用DCM（測量距離補償法）可遠距離對焦測量腔體樣品，可達80mm深度
★7、滿足可變高壓30KV,40KV,50KV三種可調節(jié)，以滿足不同的測試需求。
★8、準直器：φ0.3的圓形準直器
9、X射線探測器：比例接收器
10、統(tǒng)計計算：數(shù)據(jù)組帶時間和時期功能，統(tǒng)計功能包含平均值、標準偏差、大值、小值等；還可輸入公差范圍，計算CP和Cpk值，超范圍值時儀器應有自動報警提示功能
11、windows7以上中文操作界面，WinFTM專業(yè)測試軟件，具備連接PC和打印機的USB借口
★12、測量誤差：鍍層厚度≥0.5um時，頂層鍍層測量精度≤5%
★13、采用*基本參數(shù)法，內(nèi)置12純元素頻譜庫，可實現(xiàn)無標準片校準情況下測量
★14 MQ值顯示，用于判定測量程式是否與樣品匹配，避免誤操作
★15、標準片：配備12種基準純元素（Ag,Cu,Fe,Ni,Zn,Zr,Mo,Sn,W,Au,Pb,Cr）。
16、具備高分辨率CCD攝像頭，放大倍數(shù)40-160倍。
★17、儀器應具有環(huán)保部門出具的輻射豁免管理函
18、計算機控制系統(tǒng)：I5處理器，8G內(nèi)存，500G硬盤，19寸液晶顯示器，彩色噴墨打印機。
19、工作環(huán)境條件：操作溫度范圍：10℃~40℃；相對濕度：20%～80%；
菲希爾光譜儀 X射線熒光鍍層測厚儀注意事項
上海玖橫儀器有限公司是一家專業(yè)從事儀器儀表研發(fā)、生產(chǎn)、銷售及服務的企業(yè)。超聲波探傷儀：（EPOCH 600超聲探傷儀、EPOCH 6LT超聲探傷儀、EPOCH 650超聲探傷儀、EPOCH 1000超聲探傷儀、USM 36超聲探傷儀、USN 60超聲探傷儀、USM go+超聲探傷儀、Ominscan SX相控陣探傷儀、OmniScan MX2相控陣TOFD探傷儀）；超聲波測厚儀：（27MG超聲波測厚儀、45MG超聲波測厚儀、38DL PLUS超聲波測厚儀、DM5E超聲波測厚儀、CL5超聲波測厚儀、MAGNA-MIKE 8600霍爾效應測厚儀，ETG-100電磁高溫測厚儀）；超聲波探頭；定制相控陣探頭；渦流探傷儀：（NORTEC 600渦流探傷儀）；硬度計；內(nèi)窺鏡：（IPLEX NX奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX GX/GT奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX G Lite奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX TX奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX YS奧林巴斯內(nèi)窺鏡、XLGo+工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡GE、XL Detect+工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡GE新款、UVin專業(yè)紫外視頻內(nèi)窺鏡、）；脈沖發(fā)生器：（DRP300替代奧林巴斯的5072PR,5073PR）；合金分析儀：(Vanta奧林巴斯手持式合金分析儀、DELTA Professional手持式合金分析儀奧林巴斯、DELTA Element手持式合金分析儀奧林巴斯)等儀器儀表。上海玖橫儀器有限公司SWC-2橫波耦合劑，橫波探頭的耦合劑。
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